-
1 secondary ion mass spectroscopy
Engineering: SIMSУниверсальный русско-английский словарь > secondary ion mass spectroscopy
-
2 secondary-ion mass spectroscopy
Makarov: SIMSУниверсальный русско-английский словарь > secondary-ion mass spectroscopy
-
3 secondary ion mass spectroscopy
масс-спектроскопия вторичных ионов; см. также SMSАнгло-русский словарь промышленной и научной лексики > secondary ion mass spectroscopy
-
4 time-of-flight secondary ion mass spectroscopy
Semiconductors: TOF-SIMSУниверсальный русско-английский словарь > time-of-flight secondary ion mass spectroscopy
-
5 time-of-flight secondary-ion-mass spectroscopy
Makarov: TOF-SIMSУниверсальный русско-английский словарь > time-of-flight secondary-ion-mass spectroscopy
-
6 масс-спектроскопия вторичных ионов
Русско-английский физический словарь > масс-спектроскопия вторичных ионов
-
7 spektroskopia mas jonów wtórnych
• secondary-ion mass spectroscopySłownik polsko-angielski dla inżynierów > spektroskopia mas jonów wtórnych
-
8 SIMS
1. secondary ion mass spectrometry — масс-спектроскопия вторичных ионов ( метод химического анализа микроскопических участков образцов)secondary ion mass spectrometry — вторичная ионная масс-спектрометрия, ВИМС -
9 sekundääri-ionimassaspektroskopia
• secondary ion mass spectroscopy• SIMSSuomi-Englanti sanakirja > sekundääri-ionimassaspektroskopia
-
10 время-пролётная масс-спектроскопия вторичных ионов
1) Semiconductors: time-of-flight secondary ion mass spectroscopy2) Makarov: time-of-flight secondary-ion-mass spectroscopy( TOF-SIMS)Универсальный русско-английский словарь > время-пролётная масс-спектроскопия вторичных ионов
-
11 вторичная ионная масс-спектроскопия
1) Engineering: secondary-ion mass spectrometry2) Makarov: secondary-ion mass spectroscopy( SIMS)Универсальный русско-английский словарь > вторичная ионная масс-спектроскопия
-
12 масс-спектроскопия вторичных ионов
Makarov: secondary ion mass spectroscopyУниверсальный русско-английский словарь > масс-спектроскопия вторичных ионов
-
13 Sekundärionen-Massenspektroskopie
Sekundärionen-Massenspektroskopie f secondary ion mass spectroscopy, SIMSDeutsch-Englisch Wörterbuch der Elektrotechnik und Elektronik > Sekundärionen-Massenspektroskopie
См. также в других словарях:
Static secondary ion mass spectrometry — Static secondary ion mass spectrometry, or static SIMS is a technique for chemical analysis including elemental composition and chemical structure of the uppermost atomic or molecular layer of a solid which may be a metal, semiconductor or… … Wikipedia
Mass spectrometry — (MS) is an analytical technique that measures the mass to charge ratio of charged particles.[1] It is used for determining masses of particles, for determining the elemental composition of a sample or molecule, and for elucidating the chemical… … Wikipedia
spectroscopy — spectroscopist /spek tros keuh pist/, n. /spek tros keuh pee, spek treuh skoh pee/, n. the science that deals with the use of the spectroscope and with spectrum analysis. [1865 70; SPECTRO + SCOPY] * * * Branch of analysis devoted to identifying… … Universalium
Ion beam — An ion beam is a type of particle beam consisting of ions. Ion beams have many uses in electronics manufacturing (principally ion implantation) and other industries. Today s ion beam sources are typically derived from the mercury vapor thrusters… … Wikipedia
Electron Beam Ion Source — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Electron Beam Ion Trap — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT) bzw. Elektronenstrahl Ionenfalle ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
mass spectrometry — or mass spectroscopy Analytic technique by which chemical substances are identified by sorting gaseous ions by mass using electric and magnetic fields. A mass spectrometer uses electrical means to detect the sorted ions, while a mass spectrograph … Universalium
Low-energy ion scattering — LEIS redirects here; for the Hawaiian garland see Lei (Hawaii). Low energy ion scattering spectroscopy (LEIS), sometimes referred to simply as ion scattering spectroscopy (ISS), is a surface sensitive analytical technique used to characterize the … Wikipedia
Auger electron spectroscopy — (AES; Auger pronounced|oːʒeː in French) is a common analytical technique used specifically in the study of surfaces and, more generally, in the area of materials science. Underlying the spectroscopic technique is the Auger effect, as it has come… … Wikipedia
Plasma desorption mass spectrometry — Infobox chemical analysis name = Plasma desorption mass spectrometry caption =Schematic representation of a plasama desorption time of flight mass spectrometer. acronym = PDMS classification =Mass spectrometry analytes = Organic molecules… … Wikipedia
SIMS — Secondary Ion Mass Spectroscopy (Academic & Science » Electronics) * Student Information Management System (Academic & Science » Universities) * Students For International Mission Service (Community » Religion) * Stable Isotope Mass Spectrometer… … Abbreviations dictionary